[发明专利]一种继电器模块测试系统在审
| 申请号： | 201310719934.6 | 申请日： | 2013-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN104730450A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 田立国;邹江涛;李玉爽;刘志奇;陈高丽 | 申请（专利权）人： | 天津职业技术师范大学 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 300222 天*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种继电器模块测试系统，采用单片机技术、传感器技术对继电器模块进行测试，从而得出继电器性能的好坏。所述一种继电器模块测试系统包括：主控模块(1)；继电器模块(2)；D／A转换放大模块(3)；液晶显示模块(4)；电源模块(5)。本发明采用低功耗单片机ATmega16L作为主控芯片，通过D／A转换芯片驱动继电器的通断，通过采集继电器闭合或断开时的电压判断继电器的好坏，具有性能稳定、结构简单、价格低廉的特点，有一定的应用推广价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 继电器 模块 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种继电器模块测试系统，具有主控模块(1)，其特征在于，还包括与主控模块(1)相连的继电器模块(2)；与主控模块(1)相连的D／A转换放大模块(3)；与主控模块(1)相连的液晶显示模块(4)；与主控模块(1)相连的电源模块(5)。
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