[发明专利]一种高速半导体激光器以及芯片的制作方法在审

专利信息
申请号: 201310720952.6 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN103746289A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 罗飚;王任凡;刘应军;阳红涛 申请(专利权)人: 武汉电信器件有限公司
主分类号: H01S5/22 分类号: H01S5/22
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 郑利华
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种高速半导体激光器以及芯片的制作方法,高速半导体激光器的制作方法为:在脊波导结构一次外延生长层上PECVD生长一层SiO2层,SiO2层上再涂敷一层BCB,在BCB层上接着PECVD生长一层SiN层,在该SiN层涂敷一层光刻胶,曝光显影后形成图形,利用光刻胶做掩蔽,RIE依次刻蚀SiN、BCB和SiO2层,露出电极接触窗口。高速半导体激光器芯片制作方法:在P-InP顶层上PECVD生长SiO2层;在SiO2层上继续涂覆BCB,接着进行钝化;在BCB层上继续PECVD生长SiN层,完成脊型波导的光刻,并在脊上用RIE刻蚀SiN、BCB、SiO2层,开电流注入窗口;完成P面电极制作;将外延片减薄后,完成N面电极制作。
搜索关键词: 一种 高速 半导体激光器 以及 芯片 制作方法
【主权项】:
一种高速半导体激光器的制作方法,其特征在于,在脊波导结构一次外延生长层上PECVD生长一层SiO2层,SiO2层上再涂敷一层BCB,在BCB层上接着PECVD生长一层SiN层,在该SiN层涂敷一层光刻胶,曝光显影后形成图形,利用光刻胶做掩蔽, RIE依次刻蚀SiN、BCB和SiO2层,露出电极接触窗口。
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