[发明专利]一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法

摘要

本发明公开一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，测试方法包括如下步骤：A、将PTFE薄膜平整无褶皱地重叠缠绕在厚度测试固定板上，缠绕n(n≥5)圈；B、将磁性金属基体置于水平台面上，叠加上缠好被测PTFE薄膜的厚度测试固定板，在膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度的薄片；C、用连接涂层测厚仪的F1测头测试缠绕的PTFE膜加已知厚度的薄片的总厚度；D、计算PTFE膜厚度。采用本发明的测试方法，在测试过程中简单快速，测试精度高，同时由于测试仪器精简易携，只要能找到水平的地方即可测试。

主权项

一种PTFE微孔薄膜厚度测试方法，是配合涂层测厚仪实施，该涂层测厚仪包括主机，与主机连接的F1测试头，一已知厚度薄片及一磁性金属基体，其具体步骤为：步骤1、实验前样品准备：将PTFE微孔薄膜平整无褶皱地缠绕在一厚度测试固定板上，缠绕n圈，n≥5，置于水平桌面上等待测试；步骤2、测试前将磁性金属基体固定于水平桌面上，涂层厚度测试仪先进行校准，清零；步骤3、在磁性金属基体上叠加缠好PTFE微孔薄膜的厚度测试固定板，在PTFE微孔薄膜与磁性金属基体重合的上方再放置已知厚度为D2的薄片；步骤4、用连接涂层测厚仪主机的F1测头接触磁性金属基体，缠绕的PTFE微孔薄膜与已知厚度薄片重合的地方，主机显示屏上出现的读数即为缠绕的PTFE微孔薄膜与已知厚度薄片的厚度之和D1；步骤5、计算PTFE微孔薄膜厚度d，由于缠绕n圈，遂被测试的PTFE微孔薄膜为2n层，故有：。