[发明专利]一种多通道智能光学测试装置有效

专利信息
申请号: 201310722964.2 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN103647600A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 陈辉;吴晓平;孙莉萍;郑勇志;鲁佶;王文刚;陈义宗 申请(专利权)人: 武汉光迅科技股份有限公司
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07;H04B10/25
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所 42222 代理人: 张火春
地址: 430205 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种多通道智能光学测试装置,包括依次连接的光源、光源控制电路、波长校准监控模块、光开关,光开关一个输出端依次连接偏振控制器、2×2分路器、1*N分光器连接,其中2×2分路器一个输出端与第一光功率探测器连接,一个输入端与第二光功率探测器连接;光开关另一个输出端同N×N分路器连接,N×N分路器输出端与阵列光功率探测器一一对应连接;光源控制电路、波长校准监控模块、光开关、偏振控制器、第一光功率探测器、第二光功率探测器、阵列光功率探测器同控制单元连接;采用本发明装置可以同时测试多通道模块的各项光学指标。
搜索关键词: 一种 通道 智能 光学 测试 装置
【主权项】:
一种多通道智能光学测试装置,其特征在于:包括依次连接的光源(1)、光源控制电路、波长校准监控模块(3)、光开关(4),光开关(4)一个输出端依次连接偏振控制器(7)、2×2分路器(5‑1)、1*N分光器(8)连接,其中 2×2分路器(5‑1)一个输出端与第一光功率探测器(6‑1)连接,一个输入端与第二光功率探测器(6‑2)连接;光开关(4)另一个输出端同N×N分路器(5‑2)连接, N×N分路器(5‑2)输出端与阵列光功率探测器(6‑3)一一对应连接;光源控制电路、波长校准监控模块(3)、光开关(4)、偏振控制器(7)、第一光功率探测器(6‑1)、第二光功率探测器(6‑2)、阵列光功率探测器(6‑3)同控制单元(11)连接。
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