[发明专利]大口径光学元件表面损伤检测装置和相应的检测方法有效

专利信息
申请号: 201310723796.9 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN103674977A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 史亚莉;张正涛;张峰;陶显;徐德 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种大口径光学元件表面损伤检测装置,该装置主要包括:专用夹具,对待检测光学元件进行定位和夹紧;激光自准直仪,安装于可检测到待检测光学元件的位置,用于检测待检测光学元件的姿态信息;线阵相机组件,安装于可观测到待检测光学元件的位置,用于获取待检测光学元件表面局部缩小的线阵图像;显微镜组件,安装于可观测到待检测光学元件的位置,用于获取待检测光学元件表面局部放大的面阵图像;扫描聚焦组件,对于待检测光学元件表面进行扫描、定位和聚焦;数据采集处理系统,对于专用夹具和扫描聚焦组件的运动进行控制,并对接收到的图像进行存储、处理和图像损伤信息分析。本发明具有广泛的应用前景和可观的社会经济效益。
搜索关键词: 口径 光学 元件 表面 损伤 检测 装置 相应 方法
【主权项】:
一种大口径光学元件表面损伤检测装置,其特征在于,该装置包括:专用夹具、激光自准直仪、线阵相机组件、显微镜组件、扫描聚焦组件和数据采集处理系统,其中:所述专用夹具固定安装在检测平台上,用于实现待检测光学元件的定位和夹紧,并根据数据采集处理系统的调整指令对待检测光学元件的姿态进行调整;所述激光自准直仪安装于可检测到待检测光学元件的位置,用于检测待检测光学元件的姿态信息,并将检测到的姿态信息反馈给所述数据采集处理系统;所述线阵相机组件安装于可观测到待检测光学元件的位置,用于获取待检测光学元件表面局部缩小的线阵图像,并将获取到的线阵图像发送给所述数据采集处理系统进行存储、处理和分析;所述显微镜组件安装于可观测到待检测光学元件的位置,用于获取待检测光学元件表面局部放大的面阵图像,并将获取到的面阵图像发送给所述数据采集处理系统进行存储、处理和分析;所述扫描聚焦组件与所述线阵相机组件、显微镜组件和激光自准直仪连接,用于根据所述数据采集处理系统的驱动指令运动,以实现所述线阵相机组件、所述显微镜组件或激光自准直仪对于待检测光学元件表面的扫描、定位和聚焦;所述数据采集处理系统与所述激光自准直仪、线阵相机组件、显微镜组件和扫描聚焦组件连接,用于对于所述专用夹具和扫描聚焦组件的运动进行控制,并对接收到的图像进行存储、处理和图像损伤信息分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院自动化研究所,未经中国科学院自动化研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310723796.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top