[发明专利]一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法

摘要

本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板；电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口；测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA；上位机负责流程控制和数据处理；电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流；测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块，可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新；且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试，结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。

主权项

一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统，其特征在于：包括上位机、电流监控采集板和测试板；上位机放置于试验监控室，上位机用于进行试验设置、试验过程控制和试验结果显示；测试板和电流监控采集板放置于辐照试验室；电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口；电流监控采集FPGA分别与供电模块、电流采集单元、第一通信接口相连；电流监控采集FPGA通过第一通信接口与上位机相连；电流采集单元与供电模块相连，通过供电模块为测试板供电并返回被测FPGA的内核电流信号和I/O电流信号至电流采集单元；通过电流采集单元对所述内核电流信号和I/O电流信号进行处理后输入至电流监控采集FPGA，从而获得内核电流采样值和I/O电流采样值；测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA；被测FPGA位于试验区；控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口位于控制区；配置PROM用于存储配置控制处理FPGA的配置码流；存储PROM用于存储配置被测FPGA的测试码流，以供刷新芯片读取；被测FPGA与控制处理FPGA相连；控制处理FPGA分别与刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口相连；控制处理FPGA通过第二通信接口与上位机相连；控制处理FPGA通过控制所述存储PROM对被测FPGA进行配置，通过控制刷新芯片和所述存储PROM对被测FPGA进行刷新；SRAM存放回读码流、触发器位置信息、触发器串列对照数据；回读码流包括对照码流、被测器件码流；对照码流是被测FPGA辐照前的回读码流，被测器件码流是被测FPGA辐照之后的回读码流。