[发明专利]测定非晶体固体电解质界面膜的厚度的拉曼光谱方法在审
| 申请号： | 201310726327.2 | 申请日： | 2013-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN104748690A | 公开（公告）日： | 2015-07-01 |
| 发明（设计）人： | 水泽厚志;陈瑞 | 申请（专利权）人： | 远景能源（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 刘彬 |
| 地址： | 214443 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及测量非晶体固体电解质界面(SEI)膜的厚度的方法。具体而言，本发明提供了一种利用激光拉曼光谱仪测量基体表面上SEI膜厚度的方法，该方法使用测量激光来测量拉曼光谱，使用消融激光来烧灼SEI膜，根据从所得拉曼光谱推导出的完全消融时间Tc和消融速率V来计算出SEI膜厚度H。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 非晶体 固体 电解质 界面 厚度 光谱 方法 | ||
【主权项】：
一种使用激光拉曼光谱仪来测量基体表面的非晶体固体电解质界面(SEI)膜的厚度的方法，其包括：i.在将所述SEI膜开始暴露于消融激光的至少两个不同的时间点处，分别使用测量激光测量在该时间点处所述SEI膜的拉曼光谱；ii.根据i中得到的拉曼光谱和预先测定的所述基体未形成SEI膜时使用所述测量激光测定的拉曼光谱的谱线，推导出所述消融激光将所述SEI膜完全消融所需的时间Tc；并iii.根据时间Tc和膜消融速率V，计算出所述SEI膜的厚度H，其中H=V×Tc。
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