[发明专利]肖特基二极管及工艺方法在审
申请号: | 201310729326.3 | 申请日: | 2013-12-26 |
公开(公告)号: | CN104752521A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 周颖;丛茂杰 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种沟槽屏蔽型的肖特基二极管,其衬底上具有外延,所述外延中,隔离保护环环绕包围有源区,有源区内具有多个沟槽屏蔽电极,本发明在所述的沟槽底部增加了P阱,沟槽内填充的金属与沟槽内壁之间具有绝缘介质层,沟槽底部没有绝缘介质层,沟槽内的金属与P阱接触连通,通过反向加压时P阱与N型外延层之间形成PN结反偏,沟槽结构形成横向电场,增强器件的抗击穿能力。 | ||
搜索关键词: | 肖特基 二极管 工艺 方法 | ||
【主权项】:
一种肖特基二极管,在衬底上具有外延,外延中具有隔离保护环,所述的隔离保护环环绕包围有源区,在有源区中具有多个沟槽屏蔽电极,其特征在于:所述的沟槽屏蔽电极,其沟槽填充有金属,且沟槽侧壁具有绝缘介质层将填充的金属与外延隔离;所述沟槽底部没有绝缘介质层,沟槽下方具有P阱,沟槽内的金属与下方的P阱直接接触连通。
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