[发明专利]密封片在审
申请号: | 201310731675.9 | 申请日: | 2013-12-26 |
公开(公告)号: | CN103897617A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 甲谷龙一;牟田茂树;铃木理利;广濑彻哉;井口伸儿 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | C09J7/02 | 分类号: | C09J7/02;C09J171/00;C09J11/04;C09J11/06;C09J11/08 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陈海涛;穆德骏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种主要由胶粘片构成的密封片,其中所述胶粘片包含芯膜和形成在所述芯膜的两个表面上的胶粘层,且所述芯膜显示不小于10%的松弛率和不小于35N/10mm的拉伸强度,所述松弛率通过弯曲-应力松弛率测量试验测得。所述密封片具有优异的水平差吸收性和优异的可除去性。 | ||
搜索关键词: | 密封 | ||
【主权项】:
一种主要由胶粘片构成的密封片,其中所述胶粘片包含芯膜和形成在所述芯膜的两个表面上的胶粘层,且所述芯膜显示不小于10%的松弛率和不小于35N/10mm的拉伸强度,所述松弛率通过如下的弯曲‑应力松弛率测量试验测得:[弯曲‑应力松弛率测量试验](1)将芯膜切割成带(宽20mm,长100mm),对所述带进行卷绕以形成其一个表面在内部的环,将卷绕带的一端(10mm)放置在另一端之上,并利用胶粘带固定,以提供环试样,(2)将环试样放置在天平上,并利用夹具的平板表面对所述环试样进行压制,使得所述平板表面与所述天平之间的距离为20mm以使得所述环试样弯曲,以及(3)从开始压制起,通过所述天平测量所述环试样的重量,根据如下计算式计算从开始压制起60秒时所述环试样的重量对从开始压制起0秒时所述环试样的重量之比,并将得到的比率作为所述松弛率,松弛率(%)=(1‑F60‑W)/(F0‑W)×100F0:从开始压制起0秒时的重量,F60:从开始压制起60秒时的重量,W:试样重量。
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