[发明专利]位置检测器在审

专利信息
申请号: 201310733866.9 申请日: 2013-12-26
公开(公告)号: CN103900451A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 河野尚明;山中哲尔 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王永建
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种位置检测器(10),其具有用于提供检测范围(θfs)的间隙(30)。间隙具有在间隙的端部处大于中心处的间隙宽度。因此,当与沿相对运动的方向具有恒定的间隙宽度的间隙(30)相比,分别流动通过间隙(30)的端部处或间隙(30)的端部周围的位置的溢磁通的量和直路磁通的量减少。即,穿过位于间隙(30)的每个纵向端部的霍尔元件(54)的磁通的密度减小。因此,在间隙(30)的端部处或在间隙(30)的端部周围,霍尔元件(54)检测的磁通密度的变化率减小并改善了来自霍尔元件(54)的输出信号的线性。
搜索关键词: 位置 检测器
【主权项】:
一种检测相对于参照部件(82)运动的检测对象(69、87)的位置的位置检测器(10、60、70、100),所述位置检测器包括:第一磁通传输部件(20、61、71、101),设置在参照部件或检测对象中的一个上,第一磁通传输部件具有第一端(22)和第二端(23);第二磁通传输部件(25、64、74、103),设置成限定第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间的间隙(30、67、77、105),第二磁通传输部件具有第一端(27)和第二端(28);第一磁通产生器(40),位于第一磁通传输部件的第一端(22)和第二磁通传输部件的第一端(27)之间;第二磁通产生器(45),位于第一磁通传输部件的第二端(23)和第二磁通传输部件的第二端(28)之间;和磁通密度检测器(54),位于间隙内,设置在参照部件或检测对象中的另一个上,并根据穿过磁通密度检测器的磁通的密度输出信号,其中当间隙的间隙宽度由沿着第一磁通传输部件和第二磁通传输部件之间的垂直方向对间隙的横向测量限定,相对运动的方向被限定为磁通密度检测器相对于第一磁通传输部件的运动的方向,和运动的范围被限定为磁通密度检测器在间隙内的运动的范围,时沿相对运动的方向在磁通密度检测器的运动范围的每个端部位置处的间隙宽度(gmax)大于沿相对运动的方向在磁通密度检测器的运动范围的中心处的间隙宽度(g0)。
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