[发明专利]一种等离子刻蚀装置在审
申请号: | 201310737139.X | 申请日: | 2013-12-27 |
公开(公告)号: | CN104752132A | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 汪建平;李俊峰 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司11250 | 代理人: | 彭秀丽,穆瑞丹 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种等离子刻蚀装置,包括反应腔室(1)、上部电极(4)、下部电极(5)、气体输入系统、真空获得系统、刻蚀终点检测器、主控制台和调节机构,下部电极(5)的四周设置有排气板(6),所述排气板(6)上具有若干间隔分布的排气孔(8),所述调节机构用于根据刻蚀负载进行调节所述排气孔(8)的通气面积。本发明的等离子刻蚀装置,能够根据刻蚀负载具体情况进行灵活调节排气方式,被加工TFT基板的刻蚀均匀性大大提高,加工后的TFT基板产品质量好。 | ||
搜索关键词: | 一种 等离子 刻蚀 装置 | ||
【主权项】:
一种等离子刻蚀装置,包括反应腔室(1);上部电极(4)、下部电极(5),设置于所述反应腔室(1)内,所述下部电极(5)的四周设置有排气板(6),所述排气板(6)上具有若干间隔分布的排气孔(8);气体输入系统,设置于所述反应腔室(1)外部,通过气体输入孔(2)向所述反应腔室(1)内输入加工气体;真空获得系统,设置于所述反应腔室(1)外部,通过排气口(7)将反应生成物抽出所述反应腔室(1);刻蚀终点检测器,设置于所述反应腔室(1)内;主控制台,用于控制所述等离子刻蚀装置的运行;其特征在于:还包括调节机构,设置于所述反应腔室(1)内,用于根据刻蚀负载进行调节所述排气孔(8)的通气面积。
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