[发明专利]晶体振荡器温度特性自动测量方法和系统无效
| 申请号： | 201310739265.9 | 申请日： | 2013-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103713218A | 公开（公告）日： | 2014-04-09 |
| 发明（设计）人： | 李坤然;张立林;林惠娴;王春明 | 申请（专利权）人： | 广东大普通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市松山湖科技*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体振荡器温度特性自动测量方法和系统。所述方法包括：设置待测晶体振荡器的多个温度测试点；根据温度测试点，依次产生调温信号，发送给晶振测量单元，以调整晶振测量单元为待测晶体振荡器提供的环境温度；当晶振测量单元的环境温度每达到一个温度测试点时，产生频率测量信号，发送给晶振测量单元，获取晶振测量单元中待测晶体振荡器的频率测量值；获取与全部温度测试点对应的各频率测量值，对各频率测量值进行数据处理，得到待测晶体振荡器的温度特性指标。本发明解决了因为人为参与晶体振荡器温度特性测试而带来的测试的温度点设置不够准确、人工的数据处理存在误差、容易造成错误判断和生产效率低下等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体振荡器 温度 特性 自动 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种晶体振荡器温度特性自动测量方法，其特征在于，包括：设置待测晶体振荡器的多个温度测试点；根据所述多个温度测试点，依次产生调温信号，发送给晶振测量单元，以调整所述晶振测量单元为待测晶体振荡器提供的环境温度；当所述晶振测量单元的环境温度每达到一个温度测试点时，产生频率测量信号，发送给晶振测量单元，获取所述晶振测量单元中待测晶体振荡器的频率测量值；获取与设置的全部温度测试点对应的各频率测量值，对所述各频率测量值进行数据处理，得到所述待测晶体振荡器的温度特性指标。
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