[发明专利]一种岩石样品物理模量光学测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310739367.0 申请日: 2013-12-26
公开(公告)号: CN104155173B 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 赵建国;赵嵩卿 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油大学(北京)
主分类号: G01N3/00 分类号: G01N3/00;G01B11/16
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 汤在彦
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种岩石样品物理模量光学测量装置及方法,所述装置包括高温高压仓,其内设置有声波震源及岩石样品夹持器,所述岩石样品夹持器上夹持有岩石样品;压力控制系统,用于将所述高温高压仓加压到预置的压力下;加热控制系统,用于将所述高温高压仓加压到预置的温度下;第一光纤光栅传感器,位于所述高温高压仓内,粘附于岩石样品上;光纤光栅光谱解调仪,位于所述高温高压仓外,并连接所述第一光纤光栅传感器,用于在开启所述声波震源带动所述岩石样品震动后,通过所述第一光纤光栅传感器,测量在所述预置的压力和所述预置的温度下所述岩石样品的应变参数。其构造简单,易搭建,方便维护,实现了光纤光栅传感器测量岩石物理性质。
搜索关键词: 一种 岩石 样品 物理 光学 测量 装置 方法
【主权项】:
一种岩石样品物理模量光学测量装置,其特征在于,所述岩石样品物理模量光学测量装置包括:高温高压仓,其内设置有声波震源及岩石样品夹持器,所述岩石样品夹持器上夹持有岩石样品,其中,所述声波震源为1‑6000Hz的声波震源;压力控制系统,用于将所述高温高压仓加压到预置的压力下;加热控制系统,用于将所述高温高压仓加热到预置的温度下;第一光纤光栅传感器,位于所述高温高压仓内,粘附于岩石样品上;第二光纤光栅传感器,位于所述高温高压仓内,未粘附于所述岩石样品上;光纤光栅光谱解调仪,位于所述高温高压仓外,并连接所述第一光纤光栅传感器和第二光纤光栅传感器,用于在开启所述声波震源带动所述岩石样品震动后,通过所述第一光纤光栅传感器和第二光纤光栅传感器,测量在所述预置的压力和所述预置的温度下所述岩石样品的应变参数;其中,所述高温高压仓上还具有玻璃窗,所述玻璃窗采用法兰加聚四氟乙烯胶圈密封;所述玻璃窗为石英玻璃窗,厚度为1‑10cm;所述岩石样品物理模量光学测量装置还包括:便携式激光测振仪,用于放置于所述高温高压仓的玻璃窗外,测量所述岩石样品的振幅和加速度。
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