[发明专利]从版图数据中抽取逻辑部分版图布线密度的方法在审

专利信息
申请号: 201310739515.9 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN104750891A 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 梁影;周喆 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种从版图数据中抽取逻辑部分版图布线密度的方法,包括:统计逻辑单元种类t,每个种类包含的逻辑单元个数n,测量版图逻辑部分总共占有的面积A;统计出的各种类每个逻辑单元的面积a;计算出逻辑部分版图布线密度。本发明从版图数据中抽取逻辑部分版图布线密度的方法在只有最终版图数据的情况下能准确分析芯片版图的布线密度,利用布线密度能计算出版图面积利用率,分析版图面积缩小的可能。本发明的方法结果准确,操作简单,能节约设计成本,提高设计效率。
搜索关键词: 版图 数据 抽取 逻辑 部分 布线 密度 方法
【主权项】:
一种从版图数据中抽取逻辑部分版图布线密度的方法,其特征是,包括:1)根据逻辑单元的命名规律从版图GDSII数据中统计出逻辑单元的种类t和每个种类所包含的逻辑单元个数n,并测量出版图逻辑部分总共占有的面积A;2)从版图数据文件中抽取出步骤1)所统计出的各种类每个逻辑单元的面积a;3)利用下述公式计算版图逻辑部分计算布线密度:D=(a【t1】×n【t1】+a【t2】×n【t2】+…+a【tn】×n【tn】)/A×100%。
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