[发明专利]一种芯片和其时钟测试方法以及芯片时钟测试系统有效
| 申请号： | 201310739717.3 | 申请日： | 2013-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103698603A | 公开（公告）日： | 2014-04-02 |
| 发明（设计）人： | 刘洛 | 申请（专利权）人： | 深圳芯邦科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/10 | 分类号： | G01R23/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片和其时钟测试方法以及芯片时钟测试系统，所述芯片包括：计数单元，用于通过I2C接口获取频率测试指令，检测在I2C接口输出信号连续N个上升沿的时间段内，获取到的时钟信号的时钟总计数，本领域技术人员即可依据时钟总计数，I2C接口输出信号周期和N计算得到芯片的内部时钟频率，可见本申请提供的芯片可以通过芯片的原有功能接口I2C接口和计数单元获取到用于计算时钟周期的时钟总计数，从而得出芯片的时钟周期，不必占用新的芯片引脚，从而提高了所述芯片引脚的利用效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 时钟 测试 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片，其特征在于，包括：计数单元，用于通过I2C接口获取频率测试指令，并在获取到所述频率测试指令后当I2C接口输出信号处于升沿时，时钟信号开始计数，在I2C接口输出信号处于第N个上升沿时，时钟信号停止计数，检测并输出时钟信号开始至停止计数时间段内检测到的时钟总计数，其中所述N为不小于2的正整数。
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