[发明专利]一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法有效
| 申请号： | 201310740527.3 | 申请日： | 2013-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103698764A | 公开（公告）日： | 2014-04-02 |
| 发明（设计）人： | 李道京;李烈辰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法，其包括：S1：在获取回波信号时，在方位向对回波信号进行稀疏采样；S2：对主天线的回波信号进行距离脉冲压缩和距离徙动校正；S3：对副天线的回波信号进行二维成像获得副天线图像；S4：将副天线图像的相位作为参考相位，去除每个散射单元的初始相位；步骤S5：在频域引入压缩感知理论，对每个距离门的信号建立时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像和傅里叶系数之间关系的模型；S6：采用基于l1范数的最优化方法，利用时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像、傅里叶系数之间的关系模型，获得每个距离门复图像在傅里叶基矩阵下的傅里叶系数，反变换组合获得二维合成孔径雷达复图像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 稀疏 采样 条件下 干涉 合成孔径雷达 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种稀疏采样条件下的干涉合成孔径雷达成像方法，所述方法包括：步骤S1：在获取回波信号时，在方位向对回波信号进行稀疏采样；步骤S2：对主天线的回波信号进行距离脉冲压缩和距离徙动校正；步骤S3：对副天线的回波信号进行二维成像，获得副天线图像；步骤S4：将副天线图像的相位作为参考相位，去除每个散射单元的初始相位；步骤S5：在频域引入压缩感知理论，对每个距离门的信号建立时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像和频域的傅里叶系数之间关系的压缩感知模型；步骤S6：采用基于l1范数的最优化方法，利用时域稀疏采样、合成孔径雷达复图像、傅里叶系数之间的关系模型，获得每个距离门复图像在傅里叶基矩阵下的傅里叶系数，反变换组合获得二维合成孔径雷达复图像。
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