[发明专利]超声波测量装置、诊断装置及测量用片材以及测量方法在审

专利信息
申请号: 201310740725.X 申请日: 2013-12-26
公开(公告)号: CN103919572A 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 林正树;渡边亮基 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种超声波测量装置、超声波诊断装置、超声波测量用片材以及测量方法。上述超声波测量装置可根据对象物自动地设定合适的参数。上述超声波测量装置包括:进行超声波的发送处理的发送部;进行超声波回波的接收处理的接收部;以及进行超声波测量的控制处理的处理部。发送部通过超声波测量用片材进行向对象物发送超声波的处理,接收部进行接收来自超声波测量用片材的超声波回波的处理并对处理部输出接收信号。处理部根据来自接收部的接收信号,对超声波测量用片材所记录的超声波测量用的代码信息进行解析处理。
搜索关键词: 超声波 测量 装置 诊断 用片材 以及 测量方法
【主权项】:
一种超声波测量装置,其特征在于,包括:进行超声波的发送处理的发送部;进行超声波回波的接收处理的接收部;以及进行超声波测量的控制处理的处理部,所述发送部通过超声波测量用片材,进行向对象物发送超声波的处理,所述接收部进行接收来自所述超声波测量用片材的超声波回波的处理,并对所述处理部输出接收信号,所述处理部根据来自所述接收部的所述接收信号,对记录在所述超声波测量用片材上的超声波测量用的代码信息进行解析处理。
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