[发明专利]颗粒检查设备在审
| 申请号： | 201310740858.7 | 申请日： | 2013-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103913402A | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 曹丙雄;李顺教;金泽兼;李昶周 | 申请（专利权）人： | 三星电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;李静 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本文公开了一种颗粒检查设备，包括：激光源，使激光振荡；激光扫描器部件，反射从激光源振荡的激光，从而形成能够调整宽度和高度的用于使光散射的片；以及拍摄件，拍摄通过激光扫描器部件形成的用于使光散射的片。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 检查 设备 | ||
【主权项】：
一种颗粒检查设备，包括：激光源，使激光振荡；激光扫描器部件，反射从所述激光源振荡的激光，从而形成能够调整宽度和高度的用于使光散射的片；以及拍摄件，拍摄通过所述激光扫描器部件形成的用于使光散射的所述片。
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