[发明专利]一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法有效

专利信息
申请号: 201310741006.X 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN103700124B 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 李斌;李保磊;莫阳;张耀军 申请(专利权)人: 公安部第一研究所;北京中盾安民分析技术有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 北京中海智圣知识产权代理有限公司11282 代理人: 李大为
地址: 100048*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法,包括(1)、对行包进行X射线双能扫描,获得双能投影数据;(2)、确定双能投影数据中存在的金属投影区域;(3)、利用金属投影区域之外的双能投影数据进行迭代重建;(4)、获得抑制金属效应后的CT切片,根据双能成像原理,计算原子系数信息。本发明的有益效果在于提供了一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法,所述方法可以减少CT切片上的条状伪影,提高金属物体存在时的原子系数探测精度。
搜索关键词: 一种 射线 ct 成像 抑制 金属 效应 方法
【主权项】:
一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法,其特征在于,所述方法包括:(1)、对行包进行X射线双能扫描,获得双能投影数据;(2)、确定双能投影数据中存在的金属投影区域;(3)、利用金属投影区域之外的双能投影数据进行迭代重建;(4)、获得抑制金属效应后的CT切片,根据双能成像原理,计算原子系数信息;所述确定金属投影区域的方法为对双能投影数据进行重叠剥离,得到被透射材料的真灰度;因为金属对X射线的衰减很强,故在探测器上获得的投影光强信号上,金属区域灰度很低,采用阈值分割方法就可以将金属投影区域分割出来,为保证分割区域的完整性,辅助使用形态学中的腐蚀、膨胀操作;计算真灰度的方法为P=(I/IB)·I0,I为重叠区域灰度,IB为识别的背景区域灰度,I0为射线场亮场灰度。
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