[发明专利]一种电平测试系统在审

专利信息
申请号: 201310741775.X 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN103645406A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 王毅;唐瀚;孙洪亮;郑可;冯凌;侯兴哲;陈文礼;张羽;周全;胡晓锐 申请(专利权)人: 国家电网公司;国网重庆市电力公司电力科学研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种电平测试系统,包括:被测设备;与所述被测设备相连的线性阻抗稳定网络,所述线性阻抗稳定网络为所述被测设备提供线性稳定阻抗的工频电压;第一输入端与所述线性阻抗稳定网络和所述被测设备之间的中线相连,第二输入端与所述线性阻抗稳定网络和所述被测设备之间的相线相连的信号耦合器;与所述信号耦合器的输出端相连的EMI测试接收机;其中,所述信号耦合器将所述被测设备的差模干扰电平耦合至所述EMI测试接收机,所述EMI测试接收机对所述差模干扰电平进行测试,输出测试结果,本发明实现了对被测设备的差模干扰的测试。
搜索关键词: 一种 电平 测试 系统
【主权项】:
一种电平测试系统,其特征在于,包括:被测设备;与所述被测设备相连的线性阻抗稳定网络,所述线性阻抗稳定网络为所述被测设备提供线性稳定阻抗的工频电压;第一输入端与所述线性阻抗稳定网络和所述被测设备之间的中线相连,第二输入端与所述线性阻抗稳定网络和所述被测设备之间的相线相连的信号耦合器;与所述信号耦合器的输出端相连的EMI测试接收机;其中,所述信号耦合器将所述被测设备的差模干扰电平耦合至所述EMI测试接收机,所述EMI测试接收机对所述差模干扰电平进行测试,输出测试结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家电网公司;国网重庆市电力公司电力科学研究院,未经国家电网公司;国网重庆市电力公司电力科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310741775.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top