[发明专利]硅膜的成膜方法以及成膜装置有效
申请号: | 201310741893.0 | 申请日: | 2013-12-27 |
公开(公告)号: | CN103898472B | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 大部智行;宫原孝广;永田朋幸 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/24 | 分类号: | C23C16/24;C23C16/455;C23C16/52 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇,李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种硅膜的成膜方法以及成膜装置,所述成膜方法在基底上形成包含硅膜的膜,其具备将该基底加热,在加热了的基底表面上供给氨基硅烷系气体,在基底表面上形成晶种层的工序;以及,将基底加热,在加热了的基底表面的晶种层上供给不含氨基的硅烷系气体,在晶种层上形成硅膜的工序,前述晶种层的形成工序所使用的氨基硅烷系气体的分子中包含2个以上的硅。 | ||
搜索关键词: | 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种硅膜的成膜方法,其为在基底上形成包含硅膜的膜的成膜方法,具备:将所述基底加热,在所述加热了的基底表面上供给氨基硅烷系气体,在所述基底表面上形成晶种层的工序;以及将所述基底加热,在所述加热了的基底表面的晶种层上仅供给不含氨基的硅烷系气体,在所述晶种层上形成硅膜的工序,所述形成晶种层的工序所使用的所述氨基硅烷系气体的分子中包含2个以上的硅;所述分子中包含2个以上硅的氨基硅烷系气体为包含用下式表示的硅的氨基化合物的气体,所述式为:((R1R2)N)nSiXH2X‑n‑m(R3)m…(B),其中,所述(B)式中,n为氨基数且为1~6的自然数;m为烷基数且为0和1~5的自然数;R1、R2=CH3、C2H5、C3H7;R3=CH3、C2H5、C3H7、Cl;R1=R2=R3或者也可以不相同;X为2以上的自然数。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的