[发明专利]基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法

摘要

本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码到被测微处理器并实现仿真控制的功能。依赖于微处理器的不同特点，测试矢量能建立自动测试设备和被测微处理器之间的通信链路，同步调用子程序与测试矢量，实现微处理器的功能测试。微处理器集成开发工具根据被测参数和测试模型生成参数测试步长表，实现微处理器的参数测试。本发明有效减少了微处理器测试的操作环节，降低微处理器的批量生产测试的测试成本。

主权项

一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法，其特征在于包括如下步骤：(1)针对被测微处理器，根据结构特性和功能特性建立测试模型，并编写测试代码；(2)所述微处理器的集成开发工具根据所述测试代码生成可执行模块；同时根据测试参数和所述测试代码得到测试参数和测试步长表；(3)编写测试流程控制文件、自动测试设备资源分配表以及时序标定表；分配自动测试设备资源，标定被测微处理器的关键时序；(4)自动矢量生成器根据所述可执行模块、所述测试流程控制文件、所述自动测试设备资源分配表以及所述时序标定表生成自动测试设备可识别的测试矢量集；其中，所述自动矢量生成器生成测试矢量的过程如下：根据所述自动测试设备资源分配表，提取通道资源定义，确定测试矢量宽度；提取时钟方案，计算时序相关的逻辑关系；根据所述测试流程控制文件，提取通信方式字；根据所述时钟方案，对通信链路进行编码；按照所述可执行模块文件的格式，提取可执行代码；根据微处理器编程接口或程序下载接口的通信协议将可执行代码转化为时序文件；读取所述时序标定表，在所述时序文件中加入等待和延时，生成完备的测试矢量集；(5)重复上述步骤(1)～(4)，得到n个测试模型对应的测试矢量，其中n为自然数；(6)根据自动测试设备资源和被测微处理器的管脚数，确定最大并行测试器件数量p，将步骤(2)中测试参数、测试步长表以及步骤(5)中的测试矢量输入所述自动测试设备中，所述p为自然数；(7)将t个被测微处理器连接到所述自动测试设备，对连接性进行测试，其中t为小于或等于p的自然数；(8)通过所述自动测试设备对t个被测微处理器提供电源电压，依次执行n次测试过程，完成所述n个测试模型的测试：(9)自动测试设备关断被测器件电源，处理测试结果，一次测试结束；(10)重复步骤(7)～(9)，直至所有被测试的微处理器完成测试。