[发明专利]β表面污染位置分辨测量方法

摘要

本发明属于放射性污染监测技术领域，公开了一种β表面污染位置分辨测量方法。该方法利用β表面污染位置分辨探测器对β放射性表面污染进行探测，其包括位置关系标准曲线的获取和β放射性表面污染的测量两个步骤。该方法具有简单、探测下限低、探测灵敏面积大、测量速度快且能够准确给出污染位置信息的优点。

主权项

β表面污染位置分辨测量方法，该方法是利用β表面污染位置分辨探测器对β放射性表面污染源进行测量，其特征在于，该方法包括以下步骤：（1）位置关系标准曲线的获取顺序选取β表面污染位置分辨探测器的塑料闪烁体上被波长转换光纤划分的若干个面积和形状相同的区域单元中的每一个区域单元；在该区域单元内的塑料闪烁体的表面上移动β放射源，同时测量β放射源处于该区域单元的不同位置时，围成该区域单元的两根横向波长转换光纤的信号幅度和两根纵向波长转换光纤的信号幅度；根据两根横向波长转换光纤的信号幅度比、β放射源距两根横向波长转换光纤中的一根的距离作出横向幅度比与相对距离的标准曲线；根据两根纵向波长转换光纤的信号幅度比、β放射源距两根纵向波长转换光纤中的一根的距离作出纵向幅度比与相对距离的标准曲线；（2）β放射性表面污染的测量利用β表面污染位置分辨探测器对β放射性表面污染源进行测量，首先监测每根波长转换光纤输出的信号幅度，根据信号的强弱初步确定β放射性表面污染源所在的区域单元，然后再测量该区域单元内的两根横向波长转换光纤的信号幅度比、两根纵向波长转换光纤的信号幅度比，分别代入步骤（1）中所述的相应的横向幅度比与相对距离的标准曲线和纵向幅度比与相对距离的标准曲线，得到β放射性表面污染源的准确位置。