[发明专利]晶体振荡器波形参数自动测量系统和方法

摘要

本发明公开了一种晶体振荡器波形参数自动测量系统和方法。所述系统包括：测量控制单元、数字示波器和晶振测量单元；测量控制单元用于控制晶振测量单元将与晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与数字示波器相连接；接收数字示波器发送的采样序列，获取待测晶体振荡器的波形参数；晶振测量单元用于为待测晶体振荡器供电，将与晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与数字示波器相连；数字示波器用于获取待测晶体振荡器的采样序列，将采样序列通过通信接口发送至测量控制单元。本发明解决了因为人为参与晶体振荡器波形参数的测试过程而带来的测试的条件不能满足、人工的数据处理存在误差、容易造成错误判断、生产效率低下等问题。

主权项

一种晶体振荡器波形参数自动测量系统，其特征在于，包括：测量控制单元、数字示波器和晶振测量单元，其中，所述测量控制单元分别与所述数字示波器和所述晶振测量单元相连，所述数字示波器与所述晶振测量单元相连，所述晶振测量单元与至少两个待测晶体振荡器相连；所述测量控制单元，用于向所述晶振测量单元发送晶振选择信号，控制所述晶振测量单元将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连接；接收所述数字示波器发送的采样序列；对所述采样序列进行数据处理，获取当前测量的待测晶体振荡器的波形参数；所述晶振测量单元，用于为所述至少两个待测晶体振荡器供电，根据接收的晶振选择信号，将与所述晶振选择信号对应的待测晶体振荡器与所述数字示波器相连；所述数字示波器，用于获取相连接的待测晶体振荡器的振荡波形的采样序列，将所述采样序列通过自身的通信接口发送至所述测量控制单元。