[发明专利]基于零偏垂直地震剖面数据估计品质因子的方法和装置

摘要

本发明提供了一种基于零偏垂直地震剖面数据估计品质因子的方法和装置，其中，该方法包括以下步骤基于零偏垂直地震剖面VSP数据中的地震波的层速度，确定相邻两个VSP道之间的透射系数；将所述透射系数确定为指数法目标函数中的不定系数，根据所述指数法目标函数估计品质因子。本发明解决了现有技术中在采用指数法估计品质因子的过程中，因为不定系数的存在而导致的估计品质因子的稳定性和精度较低的技术问题，达到了提高估计品质因子的稳定性和精度的技术效果。

主权项

一种基于零偏垂直地震剖面数据估计品质因子的方法，其特征在于，包括：基于零偏垂直地震剖面VSP数据中的地震波的层速度，确定相邻两个VSP道之间的透射系数；将所述透射系数确定为指数法目标函数中的不定系数，根据所述指数法目标函数估计品质因子；其中，所述目标函数为：G(Qk,Ck)=Σf=f1f2[Sk(f)-CkSk-1(f)exp(-πtkQkf)]2]]>其中，f1表示优势频带的频率下限，f2表示优势频带的频率上限，Sk(f)表示第k个VSP道的地震波的振幅谱，Sk‑1(f)表示第k‑1个VSP道的地震波的振幅谱，tk表示第k个VSP道和第k‑1个VSP道之间的地震波的传播时间，Ck表示不定系数，Qk表示第k‑1与第k个VSP道之间的品质因子，G表示匹配误差。