[发明专利]摩尔纹测评方法及测评装置有效
| 申请号： | 201310744422.5 | 申请日： | 2013-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN103645036B | 公开（公告）日： | 2017-07-18 |
| 发明（设计）人： | 朱劲野;魏伟;武乃福 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司11002 | 代理人： | 李迪 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及显示技术领域，公开了一种摩尔纹测评方法，包括步骤S1检测全白画面下显示面板预定区域连续的不同位置处的亮度，得到亮度曲线；S2判断所述亮度曲线上是否出现波峰、波谷的图形，若出现，则说明显示有摩尔纹。本发明还公开了一种摩尔纹测评装置。本发明实现了对摩尔纹的有效和准确检测，避免了人眼检测的不足。 | ||
| 搜索关键词： | 摩尔 测评 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种摩尔纹测评方法，其特征在于，包括步骤：S1：检测全白画面下显示面板预定区域连续的不同位置处的亮度，得到亮度曲线；S2：判断所述亮度曲线上是否出现波峰、波谷的图形，若出现，则说明显示有摩尔纹；所述步骤S2之后还包括：计算相邻波峰、波谷的亮度比值，得到若干峰谷比Pi；按如下公式计算所述峰谷比与1的平均偏离程度S：S=1n-1Σi=1n(Pi-1)2]]>其中，n为峰谷比个数，Pi为第i个峰谷比。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司，未经京东方科技集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310744422.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种减肥调理组合物
- 下一篇：微拟球藻中的DCMU抗性
