[发明专利]一种集成波导调制器的双通道光学性能测试装置及其偏振串音识别与处理方法有效
| 申请号： | 201310744466.8 | 申请日： | 2013-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN103743553A | 公开（公告）日： | 2014-04-23 |
| 发明（设计）人： | 杨军;苑勇贵;吴冰;彭峰;苑立波 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工程大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种集成波导调制器的双通道光学性能测试装置及其偏振串音识别与处理方法。本发明包括高偏振稳定度宽谱光源、待测集成波导调制器、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置。该装置简化了系统结构，丰富了测试功能，降低了成本，提高了测试效率，可以广泛用于80dB以上集成波导器件的光学性能的定量测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 波导 调制器 双通道 光学 性能 测试 装置 及其 偏振 串音 识别 处理 方法 | ||
【主权项】：
一种集成波导调制器的双通道光学性能测试装置，包括高偏振稳定度宽谱光源（1）、待测集成波导调制器（2）、光程解调装置（3）、偏振串音检测与记录装置（4），其特征是：待测集成波导调制器（2）的第一输出通道和第二输出通道分别连接于光程解调装置（3）的第一解调干涉仪和第二解调干涉仪；偏振串音检测与记录装置（4）同时连接第一解调干涉仪和第二解调干涉仪，光电转换与信号处理单元（41）对第一解调干涉仪中的第一差分探测器和第二解调仪中的第二差分探测器输出的白光干涉信号同时进行处理与记录；控制计算机（42）利用内置的待测集成波导调制器（2）的偏振串音识别与处理方法，对待测集成波导调制器（2）的第一输出通道和第二输出通道间的波导芯片消光比、线性双折射、插入损耗、尾纤串音的绝对值进行测量、存储与显示，对在外界环境参数或应用参数变化时的性能差异进行比较和显示。
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