[发明专利]生长半极性GaN厚膜的方法有效

专利信息
申请号: 201310750779.4 申请日: 2013-12-31
公开(公告)号: CN103647008A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 羊建坤;魏同波;霍自强;张勇辉;胡强;段瑞飞;王军喜 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种生长半极性GaN厚膜的方法。该方法包括:步骤A,在衬底上外延半极性GaN模板层;步骤B,在GaN模板层上制备纳米级网状结构的TiN掩膜层;步骤C,在TiN掩膜层上制备自组装纳米球阵列掩膜层;以及步骤D,在依次沉积半极性GaN模板层、TiN掩膜层和自组装纳米球阵列掩膜层的衬底上继续外延生长半极性GaN厚膜。本发明的方法可以有效释放半极性GaN厚膜中的应力,实现高质量、大面积半极性GaN厚膜异质外延。
搜索关键词: 生长 极性 gan 方法
【主权项】:
一种生长半极性GaN厚膜的方法,其特征在于,包括:步骤A:在衬底上外延半极性GaN模板层;步骤B,在所述GaN模板层上制备纳米级网状结构的TiN掩膜层;步骤C,在所述TiN掩膜层上制备自组装纳米球阵列掩膜层;以及步骤D,在依次沉积半极性GaN模板层、TiN掩膜层和自组装纳米球阵列掩膜层的衬底上继续外延生长半极性GaN厚膜。
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