[发明专利]一种电场控制在单晶硅基片表面制备纳米结构的方法有效
申请号: | 201310751681.0 | 申请日: | 2013-12-31 |
公开(公告)号: | CN103745917A | 公开(公告)日: | 2014-04-23 |
发明(设计)人: | 时方晓 | 申请(专利权)人: | 沈阳建筑大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/308;B82Y40/00 |
代理公司: | 沈阳东大专利代理有限公司 21109 | 代理人: | 梁焱 |
地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种电场控制在单晶硅基片表面制备纳米结构的方法,属于纳米材料技术领域,按以下步骤进行:(1)选用n型Si(111)硅圆晶片,切割制成长方形的单晶硅基片;(2)固定于分子束外延室的真空室样品台上;在真空条件下加热清洁其表面;(3)向表面沉积Au原子,获得具有不同重构的表面结构;(4)将In沉积到单晶硅基片中心,获得矩形薄膜片层;(5)施加直流电场驱动电迁移,控制电迁移扩散,获得准二维金属纳米结构。本发明通过预先沉积在硅表面的异质金属膜层将在电场作用下发生定向的迁移扩散,扩散的结果是原始膜层均匀展宽而表面形貌不被破坏,有效地消除某些结构缺陷,如使薄膜表面普遍存在的三维岛状结构趋于平整化,实现原子级表面加工。 | ||
搜索关键词: | 一种 电场 控制 单晶硅 表面 制备 纳米 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种电场控制在单晶硅基片表面制备纳米结构的方法,其特征在于按以下步骤进行:(1)选用镜面抛光的电阻率为50~100Ω·cm的n型Si(111)硅圆晶片,沿长边平行于〈1‑10〉方向进行切割,制成长方形的单晶硅基片;(2)将单晶硅基片固定于分子束外延室的真空室样品台上;在真空室压强≤2×10‑8Pa的超高真空条件下,将单晶硅基片加热至1473±10K并保持2~6s,清洁其表面;(3)通过蒸发源向表面经过清洁的单晶硅基片表面沉积0.1~1层Au原子,在单晶硅基片表面获得具有不同重构的金吸附单晶硅表面结构;沉积时控制真空室气压≤1×10‑7Pa,单晶硅基片温度为873±10K;所述的不同重构的金吸附单晶硅表面结构是指7×7、(7×7+5×2)、5×2、(5×2+α‑√3×√3)、α‑√3×√3或β‑√3×√3表面结构;(4)将金属In在室温下通过分子束外延室内的掩模上的狭缝窗口蒸发沉积到单晶硅基片中心位置,在单晶硅基片上获得矩形薄膜片层,矩形薄膜片层的厚度为2.0±0.2ML;(5)沿着〈1‑10〉方向对单晶硅基片上的矩形薄膜片层施加直流电场开始驱动电迁移,控制矩形薄膜片层的电迁移扩散,电流强度为0.1~0.5A,施加电流的时间为1~60min,施加电场时单晶硅基片的温度为630~763K,在单晶硅基片表面获得准二维金属纳米结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳建筑大学,未经沈阳建筑大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310751681.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造