[发明专利]X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法无效
| 申请号： | 201310752185.7 | 申请日： | 2013-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN103743769A | 公开（公告）日： | 2014-04-23 |
| 发明（设计）人： | 宋祖峰;阚斌;陆尹;徐洁 | 申请（专利权）人： | 马钢（集团）控股有限公司;马鞍山钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 朱顺利 |
| 地址： | 243003 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法，先选取铁矿石标准样品和基准物质配制系列标准样品，再将标准样品与氧化剂、脱模剂混合后转移至铂黄坩埚中，高温熔融后制成玻璃片，即可得到校准样品；用X射线荧光光谱仪进行对校准样品中As、Pb、Zn和Cu元素的强度进行测定，制作校准曲线；将与校准样片同样制作方法制成的测试样片放入X射线荧光光谱仪中，并用校准样品建立X射线荧光光谱法的校准曲线进行测量，获得样品中As、Pb、Zn和Cu元素的含量，实现测定铁矿石中As、Pb、Zn和Cu的含量同时，对SiO2、CaO、MgO、Al2O3、TiO2和P等主量元素的含量进行测定。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 荧光 光谱 测定 铁矿石 有害 元素 含量 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线荧光光谱法测定铁矿石中有害元素含量的方法，其特征在于：先选取铁矿石标准样品和基准物质，配制成系列标准样品，再将标准样品与氧化剂、脱模剂混合后转移至铂黄坩埚中，高温熔融后制成玻璃片，即可得到校准样品；用X射线荧光光谱仪进行对校准样品中As、Pb、Zn和Cu元素的强度进行测定，根据强度与含量确定线性关系，制作校准曲线；将与校准样片同样制作方法制成的测试样片放入X射线荧光光谱仪中，并用校准样品建立X射线荧光光谱法的校准曲线进行测量，即可获得样品中As、Pb、Zn和Cu元素的含量。
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