[发明专利]可测量入射光角度的像素阵列、图像传感器及方法有效
申请号: | 201310753977.6 | 申请日: | 2013-12-31 |
公开(公告)号: | CN103745984B | 公开(公告)日: | 2018-06-22 |
发明(设计)人: | 陈嘉胤 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;G01C1/00 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;林彦之 |
地址: | 201210 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种可测量入射光角度的像素阵列、图像传感器及方法。图像传感器其从下到上依次包括:基底,所述基底中设置有传感器层,用于感应到的入射光进行光电转换;金属层,用于将光电转换的电信号传输到外围电路进行处理;微透镜层,用于将位于所述微透镜层法线左右两侧位于同一平面且入射角度不同的入射光分别进行折射处理,形成垂直入射所述传感器层感光面的入射光,以根据所述微透镜层中入射光的敏感角度与对应的像素地址映射关系,获得射向所述微透镜层表面的入射光的角度信息。 | ||
搜索关键词: | 入射光 微透镜层 图像传感器 传感器层 光电转换 像素阵列 可测量 基底 法线 电信号传输 垂直入射 角度信息 外围电路 像素地址 映射关系 左右两侧 金属层 入射角 感光 折射 敏感 | ||
【主权项】:
1.一种可测量入射光角度的像素阵列,其特征在于,从下到上依次包括:基底,所述基底中设置有传感器层,用于感应到的入射光进行光电转换;金属层,用于将光电转换的电信号传输到外围电路进行处理;微透镜层,用于将位于所述微透镜层法线左右两侧位于同一平面且入射角度不同的入射光分别进行折射处理,形成垂直入射所述传感器层感光面的入射光,以根据所述微透镜层中入射光的敏感角度与对应的像素地址映射关系,获得射向所述微透镜层表面的入射光的角度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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