[发明专利]无参考温度成像方法及装置在审
| 申请号： | 201310754799.9 | 申请日： | 2013-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN104739382A | 公开（公告）日： | 2015-07-01 |
| 发明（设计）人： | 帖长军;邹超;文剑洪;钟耀祖;刘新;郑海荣 | 申请（专利权）人： | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | A61B5/01 | 分类号： | A61B5/01;A61B5/055 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种无参考温度成像方法。所述方法包括利用磁共振成像采集组织相位图，并在相位图中设置一感兴趣区域，所述感兴趣区域对应着初始加热区域的大小及位置；通过每一帧相位图中所述感兴趣区域以外的参考区域中组织的相位，拟合得到所述感兴趣区域中组织的基准相位；根据每一帧相位图中，感兴趣区域中组织的相位以及所述基准相位，确定所述感兴趣区域中组织的温度变化。本发明还相应公开了一种无参考温度成像装置。应用本发明技术方案，能够在对组织进行磁共振温度成像时，提高测量温度变化的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 参考 温度 成像 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种无参考温度成像方法，其特征在于，所述方法包括：利用磁共振成像采集组织相位图，并在相位图中设置一感兴趣区域，所述感兴趣区域对应着初始加热区域的大小及位置；通过每一帧相位图中所述感兴趣区域以外的参考区域中组织的相位，拟合得到所述感兴趣区域中组织的基准相位；根据每一帧相位图中，感兴趣区域中组织的相位以及所述基准相位，确定所述感兴趣区域中组织的温度变化。
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