[发明专利]光学检测装置在审
| 申请号： | 201310756394.9 | 申请日： | 2013-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN104748856A | 公开（公告）日： | 2015-07-01 |
| 发明（设计）人： | 郑文玮;郑国渊;王浩鉴 | 申请（专利权）人： | 致茂电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/46 | 分类号： | G01J3/46;G01N21/89 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾桃园县龟*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明揭露一种光学检测装置。光学检测装置设置于输送装置上方。输送装置用以输送待测物。光学检测装置包含面扫描模块以及线扫描模块。面扫描模块具有面扫描区域。当待测物位于面扫描区域中时，面扫描模块拍摄待测物，以获得第一待测物影像。线扫描模块具有线扫描区域。在待测物通过线扫描区域期间，线扫描模块连续拍摄待测物，以获得多个线扫描影像。第一待测物影像具有第一解析度。任一线扫描影像具有第二解析度。第二解析度大于第一解析度。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种光学检测装置，其特征在于，设置于一输送装置上方，该输送装置用以输送一待测物，该光学检测装置包含：一面扫描模块，具有一面扫描区域，其中当该待测物位于该面扫描区域中时，该面扫描模块拍摄该待测物，以获得一第一待测物影像，借以检测该待测物的颜色或脏污问题；以及一线扫描模块，具有一线扫描区域，其中在该待测物通过该线扫描区域期间，该线扫描模块连续拍摄该待测物，以获得多个线扫描影像，借以检测该待测物的线瑕疵问题；其中该第一待测物影像具有一第一解析度，任一所述线扫描影像具有一第二解析度，并且该第二解析度大于该第一解析度。
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