[实用新型]光谱响应度测量系统有效

专利信息
申请号: 201320020643.3 申请日: 2013-01-15
公开(公告)号: CN203037351U 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 赵昆;冯鑫;吕志清;陈少华 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 赵燕力
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型为一种光谱响应度测量系统,包括光源、光路传输装置、探测器、样品室、信号采集、处理和控制装置;光源采用紫外、可见、红外光三种光源组合设计,可实现较大的光谱测量范围;样品室外侧设有磁场及磁场调节装置,样品室中设有温度探测和控制装置,可模拟出低温、强磁场环境;该光谱响应度测量系统可以增加测量光谱响应度的光谱范围,同时具有变温、变磁场特性,能够在低温及强磁场环境下进行测量,克服了现有光谱响应度测量装置的局限性;同时,实现了光谱响应度测试全流程自动测量,可保持测量系统良好封闭,避免手动操作带来误差。
搜索关键词: 光谱 响应 测量 系统
【主权项】:
一种光谱响应度测量系统,其特征在于:该测量系统包括有旋转台,该旋转台由中心转座和环设于中心转座外侧的外圈转座构成;在旋转台一侧设有标准探测器组;在旋转台另一侧设有样品室,样品室内设置待测样品;所述中心转座上竖直设置一中心全反射镜;所述外圈转座上对应设有第一准直镜片组和第二准直镜片组;所述标准探测器组和待测样品分别与一信号转换器电连接,该信号转换器通过一锁相放大器连接于一计算机;所述样品室外侧设有磁场及磁场调节装置;样品室中设有温度探测和控制装置;一第一光源通过一第一光路传输装置将光线传输至中心全反射镜的一反射面;一第二光源通过一第二光路传输装置将光线传输至中心全反射镜的另一反射面。
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