[实用新型]非易失性半导体存储装置有效
申请号: | 201320087331.4 | 申请日: | 2013-02-26 |
公开(公告)号: | CN203205073U | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 樱井清史;二山拓也 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06;G11C16/02 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘瑞东;陈海红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本实用新型提供非易失性半导体存储装置,具备:存储单元阵列,其构成为排列有多个块,上述块构成为排列有NAND单位单元,上述NAND单位单元构成为串联有可电气改写的多个存储单元和选择晶体管;和行解码器,其构成为选择上述存储单元阵列的块,向该块供给各种工作所需要的电压。上述行解码器具备:多个第1传输晶体管,其在矩形的第1区域配置,与上述存储单元连接;和多个第2传输晶体管,其在上述第1区域的剩余区域即第2区域配置,与上述选择晶体管连接。 | ||
搜索关键词: | 非易失性 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
一种非易失性半导体存储装置,其特征在于,具备:存储单元阵列,其构成为排列有多个块,上述块构成为排列有NAND单位单元,上述NAND单位单元构成为串联有可电气改写的多个存储单元和选择晶体管;和行解码器,其构成为选择上述存储单元阵列的块,向该块供给各种工作所需要的电压;上述行解码器具备:多个第1传输晶体管,其在矩形的第1区域配置,与上述存储单元连接;和多个第2传输晶体管,其在上述第1区域的剩余区域即第2区域配置,与上述选择晶体管连接。
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