[实用新型]待测光学系统杂散光检测系统有效
| 申请号： | 201320090245.9 | 申请日： | 2013-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN203132818U | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 潘亮;张周锋;赵建科;徐亮;田留德;刘峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 姚敏杰 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种待测光学系统杂散光检测系统，包括激光器、平行光管以及探测器；所述激光器、平行光管以及探测器依次设置于同一光轴上。本实用新型提供了一种能够对被测光系统杂散光抑制水平进行客观评价，避免目前采用杂散光系数评价的不确定性的待测光学系统杂散光检测系统。 | ||
| 搜索关键词： | 测光 系统 散光 检测 | ||
【主权项】：
一种待测光学系统杂散光检测系统，其特征在于：所述待测光学系统杂散光检测系统包括激光器、平行光管以及探测器；所述激光器、平行光管以及探测器依次设置于同一光轴上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320090245.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种带有外箱的轴承振动检测仪
- 下一篇：用于测试光学镜片透过率的装置
