[实用新型]探针测试装置有效
申请号: | 201320102724.8 | 申请日: | 2013-03-06 |
公开(公告)号: | CN203178434U | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 谭艳萍;黄俊华;王星;宋福民;高云峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种探针测试装置,包括主体固定座、光电开关、弹性支架及探针。当探针与待测试PCB板接触时,探针因受到挤压而使弹性支架发生弹性形变,遮光块遮挡光电开关的光通量。探针对待测试PCB板的压力为弹性支架形变所产生的弹力。随着探针测试装置继续移动,探针对待测试PCB板的压力,弹性支架的形变量增加,从而使遮光块遮挡光电开关的光通量也增大。当光电开关接收的光通量小于阀值时,探针测试装置停止移动,从而控制探针对待测试PCB板的接触压力。光电开关相较于高精度的位置传感器及压力传感器价格低廉,从而可有效的降低探针测试装置的成本。 | ||
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【主权项】:
一种探针测试装置,其特征在于,包括:主体固定座,在牵引装置的带动下可移动;光电开关,安装于所述主体固定座上,所述光电开关接收的光通量小于阈值时,发出停止信号以控制所述主体固定座停止移动;弹性支架,固定于所述主体固定座上,所述弹性支架上设有凸起的遮光块,所述遮光块位于所述光电开关接收光照的光路边缘;及探针,设于所述弹性支架远离所述主体固定座的一端;其中,所述弹性支架沿所述探针的延伸方向可产生弹性形变,并带动所述遮光块遮挡所述光电开关的光路,以使所述光电开关接收的光通量产生变化。
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