[实用新型]一种基于盖革式雪崩二极管的光子计数检测装置有效
申请号: | 201320104655.4 | 申请日: | 2013-03-06 |
公开(公告)号: | CN203224294U | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
发明(设计)人: | 孔平;郑刚 | 申请(专利权)人: | 上海医疗器械高等专科学校 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 20009*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种基于盖革式雪崩二极管的光子计数检测装置,由高压电源对盖革式雪崩二极管供电,并由制冷装置对盖革式雪崩二极管散热,盖革式雪崩二极管将测得的微弱光信号转换成电子脉冲,放大器将电子脉冲信号放大,再通过鉴别器对脉冲信息鉴别,最后由计数器统计脉冲数,输出给用户。本装置具有体积小、价格便宜、增益高的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 盖革式 雪崩 二极管 光子 计数 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种基于盖革式雪崩二极管的光子计数检测装置,其特征在于,盖革式雪崩二极管由高压电源供电,制冷装置对盖革式雪崩二极管进行散热,盖革式雪崩二极管将测得的微弱光信号转换成电子脉冲,放大器将电子脉冲信号放大,再通过鉴别器对脉冲信号鉴别,最后由计数器统计脉冲数,输出给用户。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海医疗器械高等专科学校,未经上海医疗器械高等专科学校许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320104655.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于PUCCH的small cell发现方法
- 下一篇:高压驱动装置