[实用新型]基于全桥电测法的微型电阻式位移计有效
| 申请号： | 201320125684.9 | 申请日： | 2013-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN203148372U | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 刘耀儒;杨强;程立;杨若琼 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 廖元秋 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于全桥电测法的微型电阻式位移计，属于地质力学模型试验技术领域；该位移计主要包括薄铜片，测试螺栓，保护壳，四个应变片及其导线，带孔底座；其中，测试螺栓固定在薄铜片的上端，薄铜片的中部和下端置于保护壳中，薄铜片的中部两侧表面的相对位置粘接四个应变片，薄铜片的下部与底座固定；四个应变片分别与导线相连接组成全桥电路。本实用新型可以测量坝体表面或岩体内部的位移，而且具有微型、轻质、灵敏度高、稳定性好的特点，特别适用于地质力学模型试验。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 全桥电测法 微型 电阻 位移 | ||
【主权项】：
一种基于全桥电测法的微型电阻式位移计，其特征在于，用于地质力学模型试验中的位移测量，该位移计主要包括薄铜片，测试螺栓，保护壳，4个应变片及其导线,带孔底座；其中，测试螺栓固定在薄铜片的上端，薄铜片的中部和下端置于保护壳中，薄铜片的中部两侧表面的相对位置粘接四个应变片，薄铜片的下部与底座固定；4个应变片分别与导线相连接组成全桥电路。
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