[实用新型]高压导体接触不良的多触点试验装置有效
| 申请号： | 201320151485.5 | 申请日： | 2013-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN203178419U | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 冯蓓艳;殷立军;孙阳盛;都泓蔚;常鹏;华月申;张华;聂鹏晨 | 申请（专利权）人： | 国家电网公司;上海市电力公司 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 张妍 |
| 地址： | 100031 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种高压导体接触不良的多触点试验装置，包含高压导体，还包含多个螺母；螺母设置在高压导体的下端，多个螺母之间的间隙为0.5mm-1mm。本实用新型能有效模拟高压导体多点接触不良。 | ||
| 搜索关键词： | 高压 导体 接触 不良 触点 试验装置 | ||
【主权项】：
高压导体接触不良的多触点试验装置，包含高压导体（1），其特征在于，还包含多个螺母（2）；多个所述的螺母（2）设置在高压导体（1）的下端；多个所述的螺母（2）之间的间隙为0.5mm‑1mm。
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