[实用新型]用于变频器内部IGBT失效保护结构有效

专利信息
申请号: 201320153791.2 申请日: 2013-03-29
公开(公告)号: CN203261241U 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 刘国鹰 申请(专利权)人: 刘国鹰
主分类号: H02M5/00 分类号: H02M5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201103 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及用于变频器内部IGBT失效保护结构,包括电路基板,其特征在于,在所述电路基板上设有容纳IGBT本体且形状与IGBT本体相应的容腔;所述容腔由固定在所述电路基板上的框形结构阻隔框组成,所述阻隔框采用绝缘且耐高温材质,能够有效的防止IGBT本体因失效而损坏所述电路基板上的其他元件。有益效果是:结构简单,能够有效的防止IGBT本体因失效而造成电路基板的损坏;同时组装方便,结构稳定。
搜索关键词: 用于 变频器 内部 igbt 失效 保护 结构
【主权项】:
用于变频器内部IGBT失效保护结构,包括电路基板,其特征在于,在所述电路基板上设有容纳IGBT本体且形状与IGBT本体相应的容腔;所述容腔由固定在所述电路基板上的框形结构阻隔框组成。
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