[实用新型]一种具有解决光线反射的检测光源结构有效
申请号: | 201320189108.0 | 申请日: | 2013-04-16 |
公开(公告)号: | CN203178180U | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 吴俊男 | 申请(专利权)人: | 昆山全盈自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/88 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215341 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种具有解决光线反射的检测光源结构,其包含:一检测模组,其系具有一检测元件,且该检测元件至少设有一槽孔,而该槽孔系提供一待测物置入;一光源模组,其系具有一发光元件、一扩散元件及一容置元件,且该发光元件系设置于该扩散元件与该容置元件之间;一反射模组,其系具有一反射元件及一框体,且该反射元件系嵌设于该框体之中;以及一取像元件,其系与该待测物及该反射元件的中心呈同轴线的设置。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 解决 光线 反射 检测 光源 结构 | ||
【主权项】:
一种具有解决光线反射的检测光源结构,其包含: 一检测模组,其系具有一检测元件,且该检测元件至少设有一槽孔,而该槽孔系提供一待测物置入; 一光源模组,其系具有一发光元件、一扩散元件及一容置元件,且该发光元件系设置于该扩散元件与该容置元件之间; 一反射模组,其系具有一反射元件及一框体,且该反射元件系嵌设于该框体之中;以及一取像元件,其系与该待测物及该反射元件的中心呈同轴线的设置。
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