[实用新型]一种基于时基集成芯片的简易光耦检测仪

摘要

本实用新型公开了一种基于时基集成芯片的简易光耦检测仪，包括被测光耦、时基集成芯片、第一至第四电阻、第一和第二电容，以及发光二极管。本实用新型采用时基集成芯片以及周边几个电阻电容，简单有效制成专用检测光耦的工具，根据发光二极管的发光或者不发光来判别被测光耦的好坏，成本低廉，且可快速有效的对光耦器件进行检测，省时省力，利于推广。

主权项

一种基于时基集成芯片的简易光耦检测仪，包括被测光耦，其特征在于：还包括时基集成芯片、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一电容、第二电容和发光二极管，所述被测光耦内部发光管的正极与所述第三电阻的第一端连接，所述第三电阻的第二端与所述时基集成芯片的输出端连接，所述被测光耦内部发光管的负极同时与所述被测光耦内部感光管的发射极、所述第二电容的第一端、所述时基集成芯片的负极、所述第一电容的第一端和电源负极连接，所述被测光耦内部感光管的集电极与所述发光二级管的负极连接，所述发光二极管的正极与所述第四电阻的第一端连接，所述第四电阻的第二端同时与所述时基集成芯片的正极、所述时基集成芯片的重置端和所述第一电阻的第一端连接，所述第一电阻的第二端同时与所述第二电阻的第一端和所述时基集成芯片的放电端连接，所述第二电阻的第二端同时与所述第一电容的第二端、所述时基集成芯片的触发端和所述时基集成芯片的重置锁定端连接。