[实用新型]晶圆缺陷检测机台有效

专利信息
申请号: 201320199474.4 申请日: 2013-04-19
公开(公告)号: CN203203942U 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 陈勇吉 申请(专利权)人: 精映科技股份有限公司
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 王正茂;丛芳
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种晶圆缺陷检测机台包含承载平台、光学检测装置、位移机构与控制单元。光学检测装置设置于承载平台的上方。光学检测装置具有光轴,且包含光源、分光镜、起偏振片、偏振分光棱镜、物镜、检偏振片与图像传感装置。分光镜、偏振分光棱镜、物镜、检偏振片与图像传感装置均位于光轴上。起偏振片设置于光源与分光镜之间。物镜设置于偏振分光棱镜相对分光镜的一侧。检偏振片设置于分光镜相对偏振分光棱镜的一侧。图像传感装置设置于检偏振片相对分光镜的一侧。位移机构设置于承载平台下,且连接承载平台。控制单元连接光学检测装置与位移机构。
搜索关键词: 缺陷 检测 机台
【主权项】:
一种晶圆缺陷检测机台,其特征在于,包含:承载平台;光学检测装置,其设置于该承载平台的上方,该光学检测装置具有光轴,且该光学检测装置包含:光源;分光镜,其位于该光轴上;起偏振片,其设置于该光源与该分光镜之间;至少一偏振分光棱镜,其位于该光轴上;至少一物镜,其设置于该偏振分光棱镜相对于该分光镜的一侧,且该物镜位于该光轴上;检偏振片,其设置于该分光镜相对该偏振分光棱镜的一侧,且该检偏振片位于该光轴上;以及图像传感装置,其设置于该检偏振片相对该分光镜的一侧,且该图像传感装置位于该光轴上;位移机构,其设置于该承载平台下,且连接该承载平台;以及控制单元,其连接该光学检测装置与该位移机构。
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