[实用新型]内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置

摘要

本实用新型提供了一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，通过在多核芯片内部设计一个电路模块，该电路模块一头连接芯片中一协处理器作为控制处理器，另外一头连接各个调试处理器的JTAG接口汇总模块。控制处理器同时连接USB收发装置，通过控制处理模块将从USB收发装置过来的命令转化成JTAG信号对各个处理器进行调试。因此，节省了调试时外围PC端与开发板间的USB转JTAG调试器，同时可通过软件支持多核芯片中多个CPU的在线同步调试。减低了开发板成本，提高了调试灵活性。

主权项

一种内嵌于芯片的USB转JTAG调试装置，包括：USB收发装置、控制处理器、JTAG接口汇总模块以及若干调试处理器，所述USB收发装置接收所述外围PC机输出的调用指令；所述控制处理器接收所述调用指令，并将所述调用指令传输给所述JTAG接口汇总模块进行配置；所述JTAG接口汇总模块接收所述控制处理器传输的调用指令，并转换输出不同的JTAG时序指令至相应的调试处理器；所述调试处理器接收相应所述JTAG时序指令进行调试，并将调试结果以此经过所述JTAG接口汇总模块、控制处理器及USB收发装置反馈输出至所述外围PC机。