[实用新型]测量激光吸收率的装置有效

专利信息
申请号: 201320244740.0 申请日: 2013-05-08
公开(公告)号: CN203249885U 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 吴雪峰;高腾飞 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 哈尔滨东方专利事务所 23118 代理人: 陈晓光
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 实用新型涉及一种测量激光吸收率的装置。材料对激光的吸收率受激光波长、偏振性、入射角、工件表面质量、激光入射区域温度等因素影响,相同材料在不同状态下会有明显的不同。一种测量激光吸收率的装置,其组成包括:光学支架(15),光学支架上安装激光器(1)、光阑(2)、分光镜(3)、凸透镜A(4)、激光功率计(5)、凸透镜B(6)和吸收体(7),激光器安装激光聚焦头(14);工控机(13)连接激光功率计和热电偶信号放大采集卡(12),热电偶信号放大采集卡连接热电偶(11),热电偶作用在摆放于移动工作台(10)上的工件(8)。本实用新型应用于各种表面状态下材料激光吸收率的测量。
搜索关键词: 测量 激光 吸收率 装置
【主权项】:
一种测量激光吸收率的装置,其组成包括:光学支架,其特征是:所述的光学支架上安装激光器、光阑、分光镜、凸透镜A、激光功率计、凸透镜B和吸收体,所述的激光器安装激光聚焦头;工控机连接所述的激光功率计和热电偶信号放大采集卡,所述的热电偶信号放大采集卡连接热电偶,所述的热电偶作用在摆放于移动工作台上的工件,所述的工件与所述的移动工作台间放置隔热垫。
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