[实用新型]可调波片式偏振干涉成像光谱仪有效
| 申请号： | 201320262232.5 | 申请日： | 2013-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN203274918U | 公开（公告）日： | 2013-11-06 |
| 发明（设计）人： | 马臻;李英才;李旭阳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 姚敏杰 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪，包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统；第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上；光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。本实用新型提供了一种结构简单且体积重量大幅减小的可调波片式偏振干涉成像光谱仪。 | ||
| 搜索关键词： | 可调 波片式 偏振 干涉 成像 光谱仪 | ||
【主权项】：
一种可调波片式偏振干涉成像光谱仪，其特征在于：所述可调波片式偏振干涉成像光谱仪包括第一检偏器、延迟量调节装置、第二检偏器以及光学成像探测系统；所述第一检偏器、延迟量调节装置以及第二检偏器依次设置在同一光轴上；所述光学成像探测系统与第二检偏器设置在同一光路上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320262232.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
