[实用新型]饱和磁化强度的测量装置有效

专利信息
申请号: 201320362004.5 申请日: 2013-06-24
公开(公告)号: CN203299362U 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 雷作胜;史永超;许春龙;韦如军;阳小华;金效兴 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种饱和磁化强度的测量装置,包括磁场发生装置和磁力测量装置,磁力测量装置为测力计,测力计的测力端和待测铁磁性材料样品之间通过悬线连接,磁场发生装置由两匝麦克斯韦线圈和两匝亥姆霍兹线圈组成双对磁场线圈,任意两匝线圈之间彼此平行且共轴设置,产生均匀梯度的磁场,将待测铁磁性材料样品放置于磁场发生装置的双对磁场线圈的中心区域。本实用新型借助麦克斯韦—亥姆霍兹双对线圈提供均匀梯度磁场,对铁磁性材料的物质饱和磁化强度进行精确测量,其装置简单,操作方便,且制造成本低廉,可以满足不同铁磁性物质饱和磁化强度的测量。
搜索关键词: 饱和磁化强度 测量 装置
【主权项】:
一种饱和磁化强度的测量装置,包括磁场发生装置和磁力测量装置,所述磁力测量装置为测力计(1),所述测力计(1)的测力端和待测铁磁性材料样品(3)之间通过悬线(2)连接,其特征在于:所述磁场发生装置由两匝麦克斯韦线圈(4)和两匝亥姆霍兹线圈(5)组成双对磁场线圈,任意两匝线圈之间彼此平行且共轴设置,产生均匀梯度的磁场,将待测铁磁性材料样品(3)放置于所述磁场发生装置的双对磁场线圈的中心区域。
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