[实用新型]利用连续473nm激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置有效
申请号: | 201320373917.7 | 申请日: | 2013-06-27 |
公开(公告)号: | CN203287319U | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 秦江;张治国 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工大北新恒业能源科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 | 代理人: | 张伟 |
地址: | 150000 黑龙江省哈尔滨市松北*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 利用连续473nm激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置,属于稀土性质测量领域。本实用新型为了解决现有的测量稀土离子辐射寿命系统庞大、荧光激发效率低、数据处理过程复杂的问题。激光器发出的连续激光的波长为473nm,光电调制器的电压输入端与高压模块的电压输出端连接,方波发生模块与高压模块的输入端连接,方波发生模块与数据采集卡连接,激光器发出的连续激光入射至电光调制器,经过偏振片及一号透镜聚焦到待测稀土样品上,激发待测稀土样品产生的荧光入射至二号透镜,再会聚至光谱仪的光接收端并获得荧光信号,光电探测器的输入端和输出端与光谱仪和数据采集卡连接。本实用新型用于测量固体中稀土离子辐射寿命。 | ||
搜索关键词: | 利用 连续 473 nm 激光器 测量 固体 稀土 离子 辐射 寿命 装置 | ||
【主权项】:
利用连续473nm激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置,它由激光器(1)、电光调制器(2)、偏振片(3)、一号透镜(4)、二号透镜(6)、光谱仪(7)、光电探测器(8)、数据采集卡(9)、方波发生模块(10)、高压模块(11)和计算机(12)组成;其特征在于:所述激光器(1)发出的连续激光的波长为473nm,光电调制器(2)的电压输入端与高压模块(11)的电压输出端连接,方波发生模块(10)与高压模块(11)的输入端连接,方波发生模块(10)产生方波控制信号,并输入至高压模块(11),高压模块(11)用于驱动电光调制器(2);方波发生模块(10)与数据采集卡(9)连接,用于将触发信号输入至数据采集卡(9);激光器(1)发出的连续激光入射至电光调制器(2),经过电光调制器(2)对偏振方向进行调制后,经过偏振片(3),通过一号透镜(4)聚焦到待测稀土样品(5)上,激发待测稀土样品(5)产生荧光,所述荧光入射至二号透镜(6),经二号透镜(6)会聚至光谱仪(7)的光接收端,经光谱仪(7)分光获得荧光信号;光电探测器(8)的输入端与光谱仪(7)连接,光电探测器(8)的输出端与数据采集卡(9)连接,光电探测器(8)用于探测经光谱仪(7)分光的荧光信号,并将探测信号输入数据采集卡(9)建立探测结果的衰减曲线,数据采集卡(9)的数据输出端与计算机(12)连接,用于将采集信息存储至计算机(12),并对所述探测结果的衰减曲线进行拟合。
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