[实用新型]利用激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置

摘要

利用激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置，属于稀土性质测量领域。本实用新型为了解决现有的测量稀土离子辐射寿命系统庞大、荧光激发效率低的问题。激光器发出的连续激光的波长为473nm或532nm，光电调制器的电压输入端与高压模块的电压输出端连接，方波发生模块通过滤波器与高压模块的输入端连接，方波发生模块与数据采集卡连接，激光器发出的连续激光入射至电光调制器，经过偏振片及一号透镜聚焦到待测稀土样品上，激发待测稀土样品产生的荧光入射至二号透镜，再会聚至光谱仪的光接收端并获得荧光信号，光电探测器的输入端和输出端与光谱仪和数据采集卡连接，显示器与计算机主机连接。本实用新型用于测量固体中稀土离子辐射寿命。

主权项

利用激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置，它由激光器（1）、电光调制器（2）、偏振片（3）、一号透镜（4）、二号透镜（6）、光谱仪（7）、光电探测器（8）、数据采集卡（9）、方波发生模块（10）、高压模块（11）、计算机主机（12）、滤波器（13）、显示器（14）、输入设备（15）、输出设备（16）和稳压器（17）组成；其特征在于：所述激光器（1）发出的连续激光的波长为473nm或532nm，光电调制器（2）的电压输入端通过稳压器（17）与高压模块（11）的电压输出端连接，方波发生模块（10）通过滤波器（13）与高压模块（11）的输入端连接，方波发生模块（10）产生方波控制信号，并输入至高压模块（11），高压模块（11）用于驱动电光调制器（2）；方波发生模块（10）与数据采集卡（9）连接，用于将触发信号输入至数据采集卡（9）；激光器（1）发出的连续激光入射至电光调制器（2），经过电光调制器（2）对偏振方向进行调制后，经过偏振片（3），通过一号透镜（4）聚焦到待测稀土样品（5）上，激发待测稀土样品（5）产生荧光，所述荧光入射至二号透镜（6），经二号透镜（6）会聚至光谱仪（7）的光接收端，经光谱仪（7）分光获得荧光信号；光电探测器（8）的输入端与光谱仪（7）连接，光电探测器（8）的输出端与数据采集卡（9）连接，光电探测器（8）用于探测经光谱仪（7）分光的荧光信号，并将探测信号输入数据采集卡（9）建立探测结果的衰减曲线，数据采集卡（9）的数据输出端与计算机主机（12）连接，用于将采集信息存储至计算机主机（12），并对所述探测结果的衰减曲线进行拟合；显示器（14）与计算机主机（12）连接，用于显示衰减曲线；输入设备（15）和输出设备（16）分别于计算机主机（12）连接，输入设备（15）为鼠标和键盘，输出设备（16） 为打印机、复印机或传真机。